| 1. Identificação | |
| Tipo de Referência | Artigo em Revista Científica (Journal Article) |
| Site | mtc-m16.sid.inpe.br |
| Código do Detentor | isadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S |
| Identificador | 6qtX3pFwXQZ3r59YDa/K354R |
| Repositório | sid.inpe.br/iris@1916/2006/02.01.11.21 (acesso restrito) |
| Última Atualização | 2012:11.08.12.59.43 (UTC) administrator |
| Repositório de Metadados | sid.inpe.br/iris@1916/2006/02.01.11.21.52 |
| Última Atualização dos Metadados | 2018:06.05.01.16.44 (UTC) administrator |
| Chave Secundária | INPE--PRE/ |
| DOI | 10.1590/S0103-97332006000300024 |
| ISSN | 0103-9733 |
| Chave de Citação | MenguiAbraRappUeta:2006:ChSnFi |
| Título | Characterization of SnTe Films Grown by Molecular Beam Epitaxy  |
| Ano | 2006 |
| Mês | June |
| Data de Acesso | 18 maio 2024 |
| Tipo Secundário | PRE PN |
| Número de Arquivos | 1 |
| Tamanho | 241 KiB |
| 2. Contextualização | |
| Autor | 1 Mengui, Úrsula Andréia 2 Abramof, Eduardo 3 Rappl, Paulo Henrique de Oliveira 4 Ueta, Antonio Yukio |
| Grupo | 1 LAS-INPE-MCT-BR 2 LAS-INPE-MCT-BR 3 LAS-INPE-MCT-BR 4 LAS-INPE-MCT-BR |
| Afiliação | 1 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais, Laboratório Associado de Sensores e Materiais, (INPE, LAS) 2 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE) 3 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE) 4 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE) |
| Endereço de e-Mail do Autor | 1 2 eduardo.abramof@inpe.br 3 rappl@las.inpe.br 4 yukio@dir.inpe.br |
| Endereço de e-Mail | marcelo.pazos@inpe.br |
| Revista | Brazilian Journal of Physics |
| Volume | 36 |
| Número | 2A |
| Páginas | 324-327 |
| Histórico (UTC) | 2006-02-01 11:21:52 :: vinicius -> administrator :: 2010-05-11 23:12:30 :: administrator -> vinicius :: 2012-11-06 12:52:32 :: vinicius -> marcelo.pazos@sid.inpe.br :: 2012-11-08 12:54:58 :: marcelo.pazos@sid.inpe.br -> administrator :: aceito -> 2006 2012-11-08 12:55:24 :: administrator -> marcelo.pazos@sid.inpe.br :: 2006 2012-11-08 12:59:43 :: marcelo.pazos@sid.inpe.br -> administrator :: 2006 2018-06-05 01:16:44 :: administrator -> :: 2006 |
| 3. Conteúdo e estrutura | |
| É a matriz ou uma cópia? | é a matriz |
| Estágio do Conteúdo | concluido |
| Transferível | 1 |
| Tipo do Conteúdo | External Contribution |
| Tipo de Versão | publisher |
| Palavras-Chave | SnTe molecular beam epitaxy BaF2 substrates |
| Resumo | A series of SnTe layers with thicknesses varying from 0.42 to 9.1 μm were grown by molecular beam epitaxy on (111) BaF2 substrates. The SnTe lattice parameter was found to be 6.331 °A as determined from x-ray diffraction spectra measured in the triple-axis configuration. The FWHM of the (222) SnTe x-ray rocking curves indicated a good crystalline quality and an unusual dependence on layer thickness. Atomic force microscopy (AFM) of the SnTe surface revealed spirals with monolayer steps formed around threading dislocations, similar to the PbTe on BaF2 epitaxy. The dislocation density was estimated from the AFM picture to be 9x108 cm¡2. Small black pits corresponding to holes that were left during growth were also observed on the AFM images. Sn diffusion can be a possible reason for these pits and the relatively high dislocation density. Electrical measurements showed that the SnTe epilayers present a typical p-type carrier concentration around 1020 cm¡3 almost temperature independent and a Hall mobility which decreases from 104 to 103 cm2/V.s as the temperature increases from 10 to 350K. |
| Área | FISMAT |
| Arranjo | urlib.net > BDMCI > Fonds > Produção anterior à 2021 > LABAS > Characterization of SnTe... |
| Conteúdo da Pasta doc | acessar |
| Conteúdo da Pasta source | não têm arquivos |
| Conteúdo da Pasta agreement | não têm arquivos |
| 4. Condições de acesso e uso | |
| Idioma | en |
| Arquivo Alvo | Mengui_et_al_2006.pdf |
| Grupo de Usuários | administrator marcelo.pazos@inpe.br vinicius |
| Grupo de Leitores | administrator marcelo.pazos@inpe.br vinicius |
| Visibilidade | shown |
| Política de Arquivamento | denypublisher denyfinaldraft12 |
| Permissão de Leitura | deny from all and allow from 150.163 |
| Permissão de Atualização | não transferida |
| 5. Fontes relacionadas | |
| Unidades Imediatamente Superiores | 8JMKD3MGPCW/3ESR3H2 |
| Lista de Itens Citando | sid.inpe.br/bibdigital/2013/09.24.19.30 3 |
| URL (dados não confiáveis) | http://dx.doi.org.ez61.periodicos.capes.gov.br/10.1590/S0103-97332006000300024 |
| Divulgação | WEBSCI; PORTALCAPES; SCIELO. |
| Acervo Hospedeiro | sid.inpe.br/banon/2003/08.15.17.40 |
| 6. Notas | |
| Campos Vazios | alternatejournal archivist callnumber copyholder copyright creatorhistory descriptionlevel format isbn label lineage mark mirrorrepository nextedition notes orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress project resumeid rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype typeofwork |